דילוג לתוכן

חדשנות ישראלית

חזרה

SEMVision : החדשנות נמצאת בפרטים הקטנים

המוצר: מערכת אוטומטית לבקרת איכות של שבבי סיליקון
החברה: אפלייד מטיריאלס
תחילת הפיתוח: 1994

שבבים ובהם מוליכים למחצה מוטמעים מאז שנות השישים בכל מוצר אלקטרוני שקיים סביבנו – מטלוויזיות ומחשבים ועד טלפונים סלולריים. תהליך ייצורם הלך והשתכלל ככל שגדל השימוש בהם.
ב-1994 זיהו בחברת האלקטרוניקה הישראלית אופל את הצורך בשיטה אוטומטית מהירה לאיתור פגמים בתהליך ייצורם של שבבי סיליקון. עד אז מהנדסים בדקו בעזרת מיקרוסקופים ידניים כל פרוסת סיליקון, שכן כל פגם מזערי גורם לכשלים במוצר הסופי.
מנכ"ל החברה, רפי יזהר, גייס צוות במטרה להגשים את החזון: מערכת בקרת פגמים אוטומטית מהירה ומדויקת, ללא מגע אדם. הרצון היה להטמיע בתהליך הייצור מיקרוסקופ אלקטרוני - שהיה עד אז כלי אנליטי בשימושן של מעבדות מתקדמות בלבד - שיאפשר רזולוציה טובה משמעותית מהכלים האופטיים ששימשו אז ויאפשר מעבר לייצור המוני ברמת האיכות הנדרשת.
ב-1997 רכשה חברת הענק האמריקאית אפלייד מטיריאלס את אופל. המוצר היה אז בפיתוח מתקדם והצוות שנשאר לאחר הרכישה המשיך בעבודתו. ב-1998 נחשף לשוק המוצר החדשני, שזכה לשם SEMVision.
חברות יצרני השבבים קלטו את יתרונותיה של המערכת כאשר נחשפו לאוטומטיזציה, למהירות, לדיוק ולרזולוציה שבזכותם מתאפשרת בקרה איכותית יותר מתמיד של תהליך הייצור. היכולת שהציגה SEMVision היתה פורצת דרך בתעשיית המוליכים למחצה בפרט ובעולם המיקרוסקופיה בכלל.
עד מהרה הותקנו מוצרי SEMVision בכל מפעלי השבבים בעולם, והם מובילים מאז את התקדמות הטכנולוגיה. המוצרים ממשיכים להתפתח בהתאם לצורכי השוק המשתנים. כשיצא המוצר הראשון ב-1998, טכנולוגיית ייצור השבבים היתה 250 ננומטר. SEMVision G6, המוצר המשווק כיום, מציע זיהוי פגמים ברזולוציה של 1 ננומטר בייצור של טכנולוגיית 7 ננומטר.
הפיתוח והייצור של המוצרים נעשה בחטיבה הישראלית של אפלייד מטיריאלס הפועלת ברחובות ובה מועסקים 1,350 עובדים. מכירות מוצרי SEMVision מסתכמות במיליארדי דולרים. למעשה, כמעט כל אדם בעולם המערבי משתמש במיכשור שרכיביו עברו בקרת איכות בעזרתם.

SEMVision: Innovation is in the Tiny Details

Product: Automatic System for Quality Control of Silicon Wafers
Company: Applied Materials
Start of Development: 1994

סימנייה